石墨烯特殊的電子遷移率、柵極可調(diào)性以及與超導(dǎo)材料的接觸透明性使其成為研究超導(dǎo)鄰近效應(yīng)的理想材料。然而,石墨烯與超導(dǎo)體的功函數(shù)差異導(dǎo)致石墨烯不可避免地在接觸附近摻雜,在空穴摻雜區(qū)形成p–n結(jié),降低了接觸透明度。這對利用石墨烯雙極性的器件實現(xiàn)提出了挑戰(zhàn)。為了解決這一局限性,本研究開發(fā)了一種新的二維超導(dǎo)觸點制備方案,該方案允許對與超導(dǎo)體接觸的石墨烯和石墨烯通道的電荷濃度和極性進(jìn)行獨立控制。通過測量接觸透明度、電導(dǎo)增強(qiáng)和約瑟夫森耦合,證實了石墨烯與兩種極性的透明接觸。此外,本研究還證明了負(fù)填充因子ν=−2時量子霍爾邊態(tài)的Andreev過程。該方案將為利用石墨烯的雙極性和超導(dǎo)電性實現(xiàn)各種理論命題開辟途徑。

圖1. 二維(2D)超導(dǎo)(SC)觸點的結(jié)構(gòu)和制造程序。(a,b)(a)一維(1D)SC與石墨烯接觸的示意圖和(b)接觸點附近石墨烯中的費米能(EF)(c,d)(c)二維SC與石墨烯接觸的示意圖和(d)接觸點附近石墨烯中的EF。對于EF的示意圖,藍(lán)色曲線表示石墨烯中的電子摻雜,而紅色曲線表示石墨烯中的空穴摻雜。(e) 六方氮化硼(hBN)/石墨烯/hBN異質(zhì)結(jié)構(gòu)上2D SC接觸的制造程序。(f) 2D SC接觸的高分辨率透射電子顯微鏡(HRTEM)圖像。(g) 2D SC接觸的電子能量損失譜(EELS)。

圖2. 二維超導(dǎo)觸頭的三探針測量。(a) 具有測量配置的設(shè)備的假彩色掃描電子顯微鏡圖像。NbN/Nb/Ti超導(dǎo)電極(綠色)和Au/Cr正常電極(黃色)與石墨烯(藍(lán)色)接觸。橙色虛線表示頂部柵極。(b) 在T=10.8 K的溫度下,正常狀態(tài)電導(dǎo)(GN)隨石墨烯(nch)溝道區(qū)電荷濃度和外加背柵電壓(VBG)的變化。對于(c),兩條垂直黃色虛線分別對應(yīng)于nch=−2×10
11 cm
–2(左)和nch=2×10
11 cm
–2(右)。四角插圖:沿四種極性配置對應(yīng)的器件長度方向,在坐標(biāo)x中靠近觸點的石墨烯的費米能量(EF)示意圖。(c) 在nch=−2×10
11 cm
–2(左)和nch=2×10
11 cm
–2(右)的偏置電壓VB=2.5 mV(G2.5?mV)下采集的數(shù)據(jù)歸一化的微分電導(dǎo),作為T=20 mK時VB和VBG的函數(shù)。藍(lán)色虛線對應(yīng)于(d)的每個面板。(d) VBG=6.8 V(右上),-10 V(右下)在nch=2×10
11 cm
–2和VBG=4.925 V(左上),-25 V(左下)在nch=-2×10
11 cm
–2處的線切割。紅色曲線對應(yīng)于Blonder–Tinkham–Klapwijk(BTK)擬合,勢壘強(qiáng)度Z,能量展寬Γ,超導(dǎo)間隙Δ=0.45 meV。(e) 接觸透射概率τ和勢壘強(qiáng)度Z是VBG的函數(shù)。(f) τ與1/(1+Z
2)的相關(guān)性。

圖3. 具有二維超導(dǎo)接觸的石墨烯約瑟夫森結(jié)(GJJ)的輸運特性。(a) 用測量結(jié)構(gòu)的二維超導(dǎo)鉬錸(MoRe)觸頭制作的GJJ器件的假彩色掃描電鏡圖像。更多的超導(dǎo)電極(綠色)與石墨烯(藍(lán)色)接觸形成約瑟夫森結(jié)。橙色虛線表示頂部柵極。(b) 在T=8.5 K的溫度下,正常狀態(tài)電導(dǎo)(G
N)隨石墨烯(n
ch)溝道區(qū)電荷濃度和外加背柵電壓(V
BG)的變化。黃色點對應(yīng)于n
ch,其中給定V
BG的接觸透射概率最大(τ
max)。四角插圖:坐標(biāo)x中費米能量(E
F)沿設(shè)備長度方向的示意圖,對應(yīng)于四個極性配置。(c) 估算n
co作為V
BG的函數(shù),擬合如正文所述。(d) G
N和GJJ的臨界電流(I
C),作為V
BG=5 V(上面板)和V
BG=−30 V(下面板)的n
ch函數(shù)。(e) 作為n
ch函數(shù)的2D接觸和1D情況下τ
max的比較。(f) 一維和二維接觸情況下,寬度歸一化I
C作為n
ch函數(shù)的比較。在V
BG=−30 V(藍(lán)色)和V
BG=5 V(紅色)下采集2D觸點數(shù)據(jù)。

圖4. 負(fù)填充因子ν=−2的量子霍爾態(tài)中的交叉Andreev轉(zhuǎn)換。(a) 石墨烯霍爾棒器件的假彩色掃描電子顯微鏡圖像,該器件由具有測量結(jié)構(gòu)的二維(2D)超導(dǎo)鉬/錸(MoRe)觸點制成。更超導(dǎo)的電極(綠色)和Au/Cr正常電極(黃色)與石墨烯(藍(lán)色)接觸。橙色虛線表示頂部柵極。(b) 上面板:在磁場B=4.559 T、背柵極電壓V
BG=−30 V、頂柵極電壓V
TG=6.298 V時,差分下游電阻(dV
D/d
I)(黑色)和差分霍爾電阻(−dV
XY/d
I)(紅色)作為上游偏置電壓(V
U)的函數(shù)。下面板:下游電壓(V
D)作為V
U的函數(shù)。天藍(lán)色垂直虛線表示超導(dǎo)間隙更多(Δ更多)。(c) dV
D/d
I(上面板)和−dV
XY/d
I(下面板)的彩色編碼圖,作為B=3 T、V
BG=−10 V和V
TG=0.9747 V時V
U和溫度T的函數(shù)。天藍(lán)色水平虛線表示更多電極的臨界溫度。(d) 下游電阻(R
D=V
D/I)、上游電阻(R
U=V
U/I)和霍爾電阻(−R
XY=(V
U–V
D)/I)作為T的函數(shù),對應(yīng)于(c)的零偏置(V
U=0)切割。天藍(lán)色垂直虛線表示更多電極的臨界溫度。
相關(guān)研究成果由浦項科技大學(xué)
Gil-Ho Lee課題組2024年發(fā)表在
Nano Letters
(鏈接:https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c03767)上。原文:
Engineering Superconducting Contacts Transparent to a Bipolar Graphene
轉(zhuǎn)自《石墨烯研究》公眾號