SIGMA HD場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
SIGMA HD配有in-lens二次電子探測(cè)器的GEMINI 鏡筒，樣品室二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器和CCD 攝像機(jī)等四種類(lèi)型的探測(cè)器，樣品臺(tái)為五軸全自動(dòng)控制，能夠提供出色的分辨率、襯度和亮度，適用于樣品形貌的清晰成像。具有高真空和可變壓力模式，實(shí)現(xiàn)了分析型場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的高清晰成像，并能夠在低加速電壓(750V-3kV)和低探針電流下對(duì)樣品成像。
分辨率：1.3nm (20 kV)
加速電壓：0.02-30 kV
探針電流4 pA-20 nA
放大倍數(shù)：10-1000 000X
樣品要求：干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可
委托檢測(cè)申請(qǐng)書(shū)下載
檢測(cè)流程：
1.填寫(xiě)委托檢測(cè)申請(qǐng)書(shū)。
2.打印的原件并掃描，把原件和樣品一起寄到制定地點(diǎn)。
3.把申請(qǐng)書(shū)掃描件發(fā)到jc@graphenes.net郵箱。
4.付款。
5.收到樣品五個(gè)工作日內(nèi)，用郵箱將檢測(cè)結(jié)果發(fā)回。如果要出檢測(cè)報(bào)告的，寄回檢測(cè)報(bào)告。剩余樣品要求寄回的，寄回剩余樣品。
jc@graphenes.net
